EDX-7200 - Características
Espectrômetro de Fluorescência de Raios X por Energia Dispersiva
EDX-7200: Alta velocidade, sensibilidade apurada e precisão excepcional
Alta velocidade - Aumento de produtividade em até 30 vezes -
Equipado com um circuito de alta velocidade que aumenta a taxa de contagem em até 30 vezes em comparação com o modelo anterior (EDX-720).
Algoritmos aprimorados e desempenho melhorado também contribuem para a redução dos tempos de medição.
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Comparação dos perfis de chumbo em ligas de cobre
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Comparação de perfis de cromo em ligas de cobre
Comparação utilizando amostras reais
Aparência externa da amostra
A repetibilidade foi comparada entre o EDX-7200 e o modelo anterior (EDX-720) para o chumbo (Pb) em solda livre de chumbo.
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Relação entre tempo de medição e desvio padrão (variação nos valores de quantificação)
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Tempo de medição necessário para alcançar a precisão de análise desejada
Ao estender o tempo de medição para aumentar a contagem de raios X fluorescentes, é possível melhorar a precisão (repetibilidade) da espectrometria de fluorescência de raios X. O EDX-7200 incorpora um detector SDD de alta taxa de contagem e um circuito de alta velocidade que permite uma análise altamente precisa do alvo em um tempo de medição menor.
Alta sensibilidade - Melhora o limite de detecção em até 6 vezes -
Na análise de metais, o limite de detecção de elementos traços nos componentes principais foi aprimorado.
Guia do limite de detecção (300 s) para chumbo em metais
Nota: O limite de detecção é um exemplo e NÃO um valor garantido.
Alta resolução
Alta resolução
- O EDX-7200 oferece uma resolução de energia superior em comparação com modelos anteriores ao incorporar um detector SDD de última geração. Isso reduz os efeitos de sobreposição de picos de diferentes elementos, aprimorando a confiabilidade dos resultados de análise.
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Comparação de resoluções de energia (amostra: resina PPS)
Não requer nitrogênio líquido
O detector SDD é capaz de resfriar seu sistema eletronicamante. Como não é necessário o uso de nitrogênio líquido, os custos operacionais são reduzidos.
Faixa de elementos detectados
- Uma unidade opcional de medição a vácuo ou uma unidade de purga de hélio é necessária para medir elementos leves (Z<16) com o EDX-7200.
- O limite de detecção varia dependendo da matriz da amostra ou dos elementos coexistentes na mesma.
- O limite de detecção de elementos leves (Z<21) piora quando filmes são utilizados.
Câmera de observação de amostras e colimadores
- Troca automatizada de colimadores em quatro etapas: diâmetros de 1, 3, 5 e 10 mm
Selecione o diâmetro do feixe irradiado a partir de quatro valores para adequá-lo ao tamanho da amostra.
Escolha o diâmetro mais apropriado para o formato da amostra: diâmetro de 1 mm para análise de traços e impurezas ou análise de pequenos defeitos; diâmetro de 3 ou 5 mm para análise de amostras pequenas.
Câmera de observação da amostra inclusa como padrão
Use a câmera de observação de amostra para confirmar a área de irradiação de raios X em uma posição específica.
Isso é útil para medir amostras pequenas, amostras compostas por distintas áreas ou quando usadas com um Micro X-Cell®. -
Substituição automática de cinco filtros primários
- Os filtros primários aumentam a sensibilidade de detecção ao reduzir os raios X contínuos e os raios X característicos provenientes do tubo de raios X.
Eles são úteis para a análise de elementos traços (baixíssimas concentrações).
O EDX-7200 incorpora cinco filtros primários (seis, se considerarmos a posição aberta), que podem ser trocados automaticamente a partir do software. -
Efeito dos filtros primários
Combine livremente colimadores e filtros primários
Os colimadores e filtros primários são controlados independentemente e podem ser combinados para atender a requisitos específicos. Selecione a combinação ideal entre as 24 opções disponíveis (6 filtros x 4 colimadores).
A análise semi-quantitativa usando o método de FP (parâmetros fundamentais) é possível em todas as combinações.
Unidade de medição de vácuo e unidade de purga de gás hélio (opcional)
A sensibilidade para elementos leves pode ser aumentada ao remover a atmosfera. Para isso, duas opções estão disponíveis: uma unidade de medição a vácuo e uma unidade de purga de hélio.
A unidade de purga de hélio é eficaz ao medir amostras líquidas e amostras que não podem ser medidas em vácuo (como sólidos na forma de pós).
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Sensibilidade relativa de medições com purga de hélio e em ar
(sensibilidade em vácuo = 100) -
Comparação de perfil em vácuo e em ar
(amostra: vidro soda-lime)
Unidade de medição de substituição de hélio (opcional)
- A substituição de hélio é eficaz para a análise dos elementos contidos em uma amostra que não pode ser colocada em atmosfera de vácuo, como amostras líquidas ou gasosas. Equipado com um sistema de substituição de gás hélio altamente eficiente (patente japonesa nº 5962855), isso reduz o tempo de medição e o consumo de gás hélio.
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Comparação de perfil em ar e hélio após purga
(EDX-7200 / amostra: enxofre em óleo)
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Carrossel equipado com 12 posições (opcional)
O uso do carrossel permite medições contínuas automatizadas. Isso melhora o rendimento, especialmente para medições em atmosfera de vácuo ou hélio. -
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Método de curva de calibração
Uma amostra padrão é medida e a relação com a intensidade dos raios X fluorescentes é plotada como uma curva de calibração, que é usada para a quantificação de amostras desconhecidas.
Embora esse método exija a escolha de padrões que mimetizem a matriz da amostra e a criação de curvas de calibração para cada elemento, ele alcança um alto nível de precisão na análise.
Esse método suporta todos os tipos de correções para elementos coexistentes, incluindo correção de absorção/excitação e correção para elementos sobrepostos. -
Método de Parâmetros Fundamentais (FP)
- Esse método utiliza cálculos teóricos de intensidade para determinar a composição a partir das intensidades medidas. É uma ferramenta poderosa para a análise quantitativa de amostras desconhecidas em casos em que a preparação de um padrão é difícil. (JP No. 03921872, DE No. 60042990. 3-08, GB No. 1054254, US No. 6314158)
- Função de adição de balanço automático (Patent pending)
Uma configuração de equilíbrio (balanço) é necessária para usar o método FP em componentes principais como C, H e O. O software configura automaticamente o balanço se determinar que uma configuração de equilíbrio se faz necessária com base no tipo de amostra.
Método FP para Filmes
O instrumento também oferece a função de método FP de filme fino. O método FP de filme fino permite a medição da espessura de filmes multicamadas, medições simultâneas da espessura do filme e composição quantitativa do filme.
Ao usar o método FP de filme fino, é possível configurar o material do substrato, a sequência de deposição e as informações dos elementos.
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Método Background FP
O método background FP adiciona cálculos de raios X dispersos (background) ao método FP convencional, que calcula apenas a intensidade do pico de raios X fluorescentes (intensidade líquida do pico). (Patente pendente: Patente Japonesa No. 5975181)
Este método é eficaz para melhorar a precisão da quantificação de pequenas quantidades de amostras orgânicas, medições de espessura de filmes de amostras com formatos irregulares e medições de espessura de filmes orgânicos. -
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Função de correspondência (matching)
A função de correspondência compara os dados de análise de uma amostra com uma biblioteca de dados existente e exibe os resultados em ordem decrescente de confiança. A biblioteca contém dados de conteúdo e dados de intensidade, e o usuário pode registrar cada tipo. Os valores dos dados de conteúdo podem ser inseridos manualmente. -
Design funcional
Câmara de amostra grande com dimensões compactas
A largura instalada é 20% menor do que o instrumento anterior (EDX-720) devido ao seu tamanho corporal compacto.
O EDX-7200 pode acomodar amostras com um tamanho máximo de aproximadamente L300 x P275 x (aprox.) A100 mm.
Lâmpada de LED de alta visibilidade
Quando os raios X são gerados, um indicador de raios X na parte traseira do instrumento e uma lâmpada X-RAYS ON na parte frontal se acendem, permitindo que o status do instrumento seja monitorado mesmo a distância.
O software PCEDX Navi permite uma operação fácil
O software PCEDX Navi foi projetado para simplificar a espectrometria de fluorescência de raios X para iniciantes, ao mesmo tempo em que oferece o conjunto de recursos e capacidades exigidos por usuários mais experientes.
A interface de usuário oferece operação intuitiva e proporciona um ambiente de operação conveniente tanto para iniciantes quanto para especialistas.
Layout de Tela Simples
Exibição da imagem da amostra, seleção das condições de análise e entrada do nome da amostra na mesma tela.
Troca de colimadores a partir da tela de medição
Altere o diâmetro do colimador enquanto observa a imagem da amostra.
O diâmetro selecionado é indicado por um círculo amarelo.
Armazenamento automático de imagens de amostra
A imagem da amostra é carregada automaticamente quando a medição começa. As imagens das amostras são salvas com um link para o arquivo de dados.