EDX-7200 - Aplicações
Espectrômetro de Fluorescência de Raios X por Energia Dispersiva
Aplicações Abrangentes
Pó (partículas finas e grossas) -Análise Qualitativa e Quantitativa de Rocha-
A análise de amostras de pó é uma aplicação típica da fluorescência de raios X. A amostra é moldada sob pressão ou colocada em um recipiente de amostra para análise. A figura abaixo mostra um exemplo da análise qualitativa e quantitativa de um material de referência de rocha de Na a U.
A quantificação precisa é possível mesmo sem uma amostra padrão. Elementos leves também podem ser medidos com alta sensibilidade por meio da medição em atmosfera de vácuo.
Líquido, Suspensão e Emulsão -Elementos Pesados em Óleo Usado-
To measure a liquid sample, simply add it to a sample cell with film on the bottom. This method is effective for the detection and quantitation of additive components and worn metals in aqueous solutions, organic solvents, or oils.
As shown below, the system achieves adequate detection of heavy elements in waste oil at ppm levels.
Avaliação de Material Estranho -Matéria Estranha Aderida à Parte Extrudada de Plástico-
EDX permite testes não destrutivos de elementos, tornando-o eficaz para a análise de matéria estranha aderida ou misturada em alimentos, medicamentos ou produtos. O uso da câmera de observação de amostra e colimadores facilita a identificação de matéria estranha em traços.
O diâmetro de irradiação de 1 mm é eficaz na redução dos efeitos do material periférico, resultando em correspondência quantitativa precisa. No exemplo, o material foi identificado como SUS316.
Catalisador Residual -Análise usando Correção de Radiação Espalhada-
O EDX também é útil para testar catalisadores residuais. Para análise quantitativa de catalisadores residuais durante a síntese orgânica, a análise por ICP é frequentemente usada. No entanto, o pré-tratamento é complicado e leva tempo para obter resultados. O EDX torna a análise quantitativa fácil.
O seguinte é um exemplo de análise quantitativa de Pd em matéria orgânica (celulose) usando uma curva de calibração preparada com uma solução aquosa padrão de Pd. Ao usar a correção padrão na linha de espalhamento, a diferença entre o material de água e celulose é corrigida. Além disso, o resultado quantitativo é equivalente ao caso da quantidade suficiente, mesmo se a quantidade da amostra for pequena.
ーAnálise de Triagem de Fósforoー
O fenol e o ácido fosfórico isopropílico (3:1) (PIP (3:1)) são amplamente utilizados em produtos como cloreto de polivinila (PVC) e poliuretano para fornecer plasticidade e retardância à chama. Enquanto isso, a Agência de Proteção Ambiental dos Estados Unidos (EPA dos EUA) começou a regular a fabricação, processamento e comércio de produtos e artigos contendo PIP (3:1) sob o Ato de Controle de Substâncias Tóxicas (TSCA).
Para essa regulamentação, o EDX é capaz de fazer a triagem e análise do conteúdo de PIP (3:1), um composto de fósforo, em concentrações de fósforo.
Com o uso de uma unidade de medição a vácuo opcional, a análise pode ser realizada com ainda mais sensibilidade.
* O EDX detecta como fósforo total, não apenas a partir de PIP(3:1).
Se o fósforo for detectado, o GC/MS pode ajudar a determinar se o fósforo é derivado de PIP(3:1).
Fórmula Estrutural do PIP(3:1)
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Sobreposição de Perfil de Amostra Contendo PIP(3:1) e Amostra em Branco
*A amostra imitativa contendo PIP(3:1) é preparada adicionando PIP(3:1) ao éter de petróleo de forma que a concentração de fósforo (P) seja de 1000 ppm. Além disso, o PVC é assumido como o material e parafina clorada é adicionada para misturar cloro (Cl).
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Sobreposição de Perfil de Medidas a Vácuo e em Atmosfera de Amostras Reais Contendo PIP
ーMedição de Espessura e Composição de Filmes de Revestimento de Ni-P Sem Eletróliseー
O método de FP de filme fino pode ser usado para medir a espessura de filmes multicamadas ou quantificar simultaneamente a espessura e a composição dos filmes.
A seguir, é mostrado um exemplo de quantificação da espessura de 4,8 µm de um filme de revestimento e a concentração de seus componentes principais, Ni e P. Quantidades traço de Pb também foram detectadas.
Revestimento, Filmes Finos -Medição de Espessura de Revestimento em Amostra de Forma Irregular-
O EDX realiza a medição da espessura do revestimento sem necessidade de amostras padrão usando o método de filme fino FP. No entanto, erros quantitativos podem aumentar em amostras de forma irregular porque o método de filme fino FP pressupõe que as amostras tenham uma condição de superfície plana. Novos recursos com o método de fundo FP permitem a medição da espessura do revestimento com menos erro em amostras de forma irregular, como a parte do eixo do parafuso. Um exemplo da medição da espessura de parafusos galvanizados é mostrado abaixo.
Preparação da Amostra
Amostras Sólidas
- Pré-tratamento de amostras metálicas
Para aumentar a precisão na quantificação de amostras metálicas ou eliminar os efeitos de contaminação ou oxidação na superfície da amostra, maquine e polir a superfície da amostra com um torno e uma máquina de polimento rotativo. -
Amostras Líquidas
Amostras em Pó
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Pulverização de Amostras
Pulverize amostras com tamanhos de partículas grossas, ou amostras sujeitas a efeitos da não uniformidade das partículas minerais na superfície de análise. -
Método de Esferas de Vidro
O método de esferas de vidro fornece análises altamente precisas de pós de óxido, como rochas. A amostra é vitrificada usando um fundente, como Li2B4O7.