EDX-8100 - Características

Câmara de amostra grande dentro de um instrumento compacto

A largura instalada é 20% menor do que o instrumento anterior devido ao seu tamanho compacto.
O EDX-8100 pode acomodar amostras com tamanho máximo de 300 x 275 x 100 mm.

Lâmpada LED de alta visibilidade

Quando os raios X são gerados, um indicador de raios X na parte traseira do instrumento e uma lâmpada X-RAYS ON na parte frontal acendem, permitindo que o status do instrumento seja monitorado mesmo à distância.

O detector SDD de alta performance e o hardware otimizado alcançam um alto nível de sensibilidade, velocidade de análise e resolução de energia que anteriormente eram inatingíveis. O sistema EDX-8100 também permite a detecção a partir de ₆C.

Alta Sensibilidade　− Limite de Detecção Inferior Melhorado de 1,5 a 5 Vezes! −

O detector SDD de alta performance e a combinação de ótica otimizada e filtros primários alcançam níveis de sensibilidade nunca antes vistos. A sensibilidade é maior do que a do detector semicondutor Si (Li) anterior em toda a faixa, desde elementos leves até elementos pesados.

Alta Velocidade　− Produtividade Aumentada em um Fator de 10 −

A alta contagem de raios X fluorescentes por unidade de tempo (alta taxa de contagem) do detector SDD permite análises altamente precisas em menos tempo de medição. Isso é alcançado ao máximo ao analisar amostras que geram muitos raios X fluorescentes, como amostras com um metal como o elemento principal.

Alta Resolução

Os instrumentos EDX-8100 alcançam uma resolução de energia superior em comparação com modelos anteriores, graças à incorporação de um detector SDD de última geração. Isso reduz os efeitos de sobreposição de picos de diferentes elementos, melhorando a confiabilidade dos resultados da análise.

Não é necessário nitrogênio líquido

A alta contagem de raios X fluorescentes por unidade de tempo (alta taxa de contagem) do detector SDD permite análises altamente precisas em um tempo de medição mais curto. Essa característica é alcançada ao máximo ao analisar amostras que geram muitos raios X fluorescentes, como amostras com um metal como elemento principal.

Faixa de Elementos Detectados

• Para medir elementos leves (₁₅P e mais leves) com o EDX-8100, é necessário um equipamento opcional de medição a vácuo ou unidade de purga de hélio.
• O limite de detecção inferior varia dependendo da matriz da amostra ou dos elementos coexistentes.
• O limite de detecção inferior de elementos leves (₂₀Ca e mais leves) piora quando o filmes (do porta-amostra) são utilizados.
• É impossível medir ₈O e elementos mais leves com filmes (do porta-amostra).

Análise de elementos ultra-leves com EDX-8100

Perfil de Flúor (F) no EDX-8000

O EDX-8100 possui um detector SDD com um material de janela ultrafina especial que é capaz de detectar elementos ultra-leves como carbono (C), oxigênio (O) e flúor (F).

Acomoda todos os tipos de amostras, desde pequenas até grandes, desde pós até líquidos. As opções incluem uma unidade de medição a vácuo e uma unidade de purga de hélio para medição altamente sensível de elementos leves, além de um carrossel com 12 posições de amostras para medições contínuas automatizadas.

Câmera de observação de amostras e colimadores

Troca automática de colimadores em quatro estágios: diâmetros de 1, 3, 5 e 10 mm

Selecione a câmara de irradiação a partir de quatro valores para se adequar ao tamanho da amostra. Escolha o diâmetro de irradiação mais apropriado para a forma da amostra: diâmetro de 1 mm para análise de traços de matéria estrangeira ou análise de defeitos; diâmetro de 3 mm ou 5 mm para volumes de amostra pequenos.

Câmera de observação de amostra incluída como padrão

Use a câmera de observação de amostra para confirmar a posição da irradiância de raios X em uma posição específica ao medir amostras pequenas, amostras que compreendem múltiplas áreas ou ao usar uma Micro X-Cell.

Substituição automática de cinco filtros primários

Os filtros primários aumentam a sensibilidade de detecção, reduzindo os raios X contínuos e os raios X característicos do tubo de raios X. Eles são úteis para a análise de elementos traço.
O EDX-8100 incorpora cinco filtros primários como padrão (seis, incluindo a posição aberta), que podem ser trocados automaticamente usando o software:

Combine colimadores e filtros primários livremente

Os colimadores e os filtros primários são acionados independentemente e podem ser combinados para atender a requisitos específicos. Selecione a combinação ideal dentre 24 opções disponíveis (6 filtros x 4 colimadores). A análise quantitativa usando o método FP é possível com todas as combinações.

Unidades opcionais de medição a vácuo e de purga de hélio

A sensibilidade para elementos leves pode ser aumentada removendo a atmosfera. Existem duas opções disponíveis: uma unidade de medição a vácuo e uma unidade de purga de hélio. A unidade de purga de hélio é eficaz ao medir amostras líquidas e amostras que geram um gás e não podem ser medidas em um vácuo.

Unidade de Purificação Avançada com Hélio (Opcional)

Esse sistema proprietário (Patente Japonesa nº 5962855) purifica eficientemente o instrumento com gás hélio, alcançando uma redução de aproximadamente 40% no tempo de purificação e no consumo de gás hélio em comparação com unidades anteriores.
(Opção para EDX-8100)

Perfil de Comparação em Ar e Hélio Após Purificação
(EDX-7000 / amostra: enxofre em óleo)

Perfil de Comparação em Ar e Hélio Após Purificação
(EDX-8100 / amostra: flúor em agente de revestimento de flúor)

Carrossel de 12 posições (Opcional)

A adição do carrossel de amostras (turret) permite medições contínuas automatizadas. Isso melhora a eficiência, especialmente para medições em atmosfera de vácuo ou hélio.

Método da Curva de Calibração

Um padrão de amostra é medido e a relação com a intensidade de raios X fluorescentes é representada em uma curva de calibração, que é usada para a quantificação de amostras desconhecidas.
Embora esse método exija a seleção de uma amostra padrão próxima à amostra desconhecida e a criação de uma curva de calibração para cada elemento, ele alcança um alto nível de precisão na análise.
Esse método suporta todos os tipos de correções para elementos coexistentes, incluindo correção de absorção/excitação e correção para elementos sobrepostos.

Método de Parâmetro Fundamental (Fundamental Parameter, FP)

Este método utiliza cálculos de intensidade teórica para determinar a composição a partir das intensidades medidas. É uma ferramenta poderosa para a análise quantitativa de amostras desconhecidas em casos em que a preparação de uma amostra padrão é difícil.
(JP No. 03921872, DE No. 60042990. 3-08, GB No. 1054254, US No. 6314158)

Função de Configuração de Equilíbrio Automático (Pedido de patente pendente)

Uma configuração de equilíbrio é necessária para usar o método FP em componentes principais, como C, H e O. O software configura automaticamente o equilíbrio se determinar a partir do formato do perfil que uma configuração de equilíbrio é necessária.

Método FP por filme

O instrumento também oferece a função do método FP por filme fino. O método FP por filme fino permite a medição da espessura do filme de filmes multicamadas e medições simultâneas da espessura do filme e da composição quantitativa do filme.
Ao usar o método FP por filme fino, é possível configurar o material do substrato, a sequência de deposição e as informações dos elementos.

Método de Fundo FP

O método de Fundo FP acrescenta cálculos de raios X dispersos (background) ao método FP convencional, que calcula apenas a intensidade do pico de raios X fluorescentes (intensidade líquida do pico).
(Patente pendente: Número de Patente Japonesa nº 5975181)

Esse método é eficaz para melhorar a precisão da quantificação de pequenas quantidades de amostras orgânicas, medições de espessura de filmes em amostras com formatos irregulares e medições de espessura de filmes orgânicos.

Função de Correspondência (matching)

Resultados do Matching 

A função de correspondência compara os dados de análise de uma amostra com uma biblioteca de dados existente e exibe os resultados em ordem decrescente de confiança.

A biblioteca contém dados de conteúdo e dados de intensidade, e o usuário pode registrar cada tipo. Os valores dos dados de conteúdo podem ser inseridos manualmente..

Inicialização Fácil do Instrumento

O PCEDX Navi oferece inicialização e ligar o instrumento (ligar tubo de raios X) com operações simples de clique do mouse. Após a inicialização do instrumento, a função de estabilização opera por 15 minutos. Durante esse período, a análise e as verificações do instrumento são desativadas, garantindo que todos os usuários coletem dados em um ambiente de instrumento estável.

Aging automático do tubo de raios X

Quando um tubo de raio-X não é usado por um longo período, ele requer um "aging" (envelhecimento) antes de poder ser usado novamente. O software realiza automaticamente o procedimento apropriado de acordo com o período de não uso.

Proteção de senha

O software oferece proteção por senha. As configurações de condição e alterações só podem ser feitas por alguém que insira a senha.

Incorpora software de análise geral

O EDX-8100 incorpora o software PCEDX Pro, que oferece funções mais flexíveis. Este software permite a análise, configurações de condições e processamento de dados usando operações familiares. Também permite o carregamento de perfis de dados e valores de quantificação adquiridos com um instrumento da série Shimadzu EDX anterior.

Funções de criação de relatórios

Os relatórios de dados de análise podem ser criados nos formatos HTML ou Excel, e há uma variedade de modelos disponíveis.
A imagem da amostra, que é automaticamente salva quando a medição é iniciada, é incluída no relatório para confirmação da posição de medição.

Funções de criação de listas

Listas dos resultados da análise para várias amostras podem ser criadas em formato Excel. Os dados podem ser selecionados na lista para exibição detalhada ou edição. Uma variedade de modelos de geração de listas está disponível, incluindo uma lista de elementos perigosos específicos da RoHS e listas de elementos definidas pelo usuário.