EDX-8100 - Aplicações
Espectrômetro de Fluorescência de Raios X por Energia Dispersiva
Aplicações abrangentes
Pós (partículas finas/grossas) −Qualificação e Quantificação de Cimento−
A análise de amostras em pó é uma aplicação típica da espectrometria de fluorescência de raios X. As amostras podem ser prensadas ou soltas na célula de amostra.
O seguinte mostra um exemplo da análise de uma substância padrão de cimento usando análise qualitativa/quantitativa de Na-U, que é o método padrão para análise de pó. A quantificação precisa foi alcançada sem o uso de amostras padrão. A realização de medidas em vácuo possibilitou medidas sensíveis de elementos leves.
Líquidos, Pastas e Emulsão −Elementos Pesados em Óleo de Resíduos−
Para medir uma amostra líquida, basta adicioná-la a uma célula de amostra com película na parte inferior. Este método é eficaz para a detecção e quantificação de componentes adicionais e metais desgastados em soluções aquosas, solventes orgânicos ou óleos.
Como mostrado abaixo, o sistema alcança uma detecção adequada de elementos pesados em óleo de resíduos em níveis de ppm.
Avaliação de Material Estranho −Material Estranho Aderido a Peça Extrudada de Plástico−
A análise por EDX permite testes elementares não destrutivos, sendo eficaz para a análise de material estranho aderido ou misturado em alimentos, medicamentos ou produtos. O uso da câmera de observação da amostra e dos colimadores facilita a identificação de material estranho em traços. O diâmetro de irradiação de 1 mm é eficaz para reduzir os efeitos do material periférico, resultando em correspondência quantitativa precisa. No exemplo, o material foi identificado como SUS316.
Alimentos, Amostras Biológicas, Plantas −Composição mineral de algas, pequenas amostras−
A análise por EDX é utilizada na análise de elementos contidos em alimentos e amostras biológicas. É eficaz no controle de processos ao adicionar elementos aos alimentos, avaliar o crescimento deficiente de culturas e identificar a região ou origem dos produtos.
A nova função de FP de fundo permite obter resultados de quantificação semelhantes, mesmo com pequenas amostras, sendo útil em pesquisas quando apenas pequenas amostras estão disponíveis e para eliminar discrepâncias devido a diferenças no tratamento de amostras por operadores.
Revestimentos e Filmes Finos
−Medição de Espessura e Composição de Filmes de Revestimento de Ni-P Sem Eletrodeposição−
O método de filme fino FP pode ser usado para medir a espessura de filmes multicamadas ou quantificar simultaneamente a espessura e a composição dos filmes. O seguinte mostra um exemplo de quantificação da espessura de 1,8 μm de um filme de revestimento e a concentração de seus principais componentes Ni e P e pequenas quantidades de Pb que foram detectadas.
Revestimentos e Filmes Finos
−Medição de espessura de revestimento em amostra de formato irregular−
O EDX realiza a medição da espessura do revestimento sem a necessidade de amostras padrão por meio do método FP de filme fino. No entanto, havia um problema com o erro quantitativo se tornando maior em amostras de formato irregular porque o método FP de filme fino assume um método de cálculo quantitativo para a condição de superfície plana de medição. As novas características do método FP de fundo podem realizar a medição da espessura do revestimento com menos erro em amostras de formato irregular, como a parte do eixo do parafuso. O exemplo de medição de espessura de parafusos galvanizados é mostrado abaixo.
Pré-tratamento de amostras metálicas
Para melhorar a precisão da quantificação em amostras metálicas ou para eliminar os efeitos de contaminação ou oxidação na superfície da amostra, utilize uma máquina e polimento da superfície da amostra com um torno e uma máquina de polimento rotativo.
Amostras líquidas
Amostras em pó
Pulverizando Amostras
Pulverizar amostras com tamanhos de partículas grossas ou amostras sujeitas aos efeitos da não uniformidade de partículas minerais na superfície de análise.
Método de Esferas de Vidro
O método de esferas de vidro fornece análises altamente precisas de pós de óxido, como rochas. A amostra é vitrificada usando um fundente como Li2B4O7.
Impurezas elementares totais, sem preparação, apenas um clique
Sem Preparação, Não Destrutivo, Fácil
- 4 Passos Simples!
- Recursos de conformidade FDA 21 CFR Parte 11 necessários na indústria farmacêutica
- Gerenciamento de dados DB/CS LabSolutions - Maior eficiência
- Análise de impurezas de medicamentos usando fluorescência de raios X
4 Passos Simples!
Características
Recursos de conformidade FDA 21 CFR Parte 11 necessários na indústria farmacêutica
- Função de Segurança
- Função de Validação
- Funções de Saída de Registro de Operação e Auditoria
- Gerenciamento de Direitos de Usuário
- Funções de Saída de Registro de Operação e Auditoria
Função de Segurança
Autenticação de usuário por ID e senha e Bloqueio de Tela permitem apenas que usuários autorizados tenham acesso, registrados em um log de histórico operacional.
Função de Saída de Registro de Auditoria
Logs de Auditoria, incluindo o histórico de alterações nas configurações do instrumento e o histórico de operações do usuário podem ser gerados.
LabSolutions DB/CS Gestão de Dados - Maior Eficiência
Todos os dados analíticos, incluindo dados obtidos de outros instrumentos analíticos, são gerenciados em um banco de dados no computador servidor, permitindo que os dados sejam carregados e gerenciados em qualquer computador da rede.
Análise de Impurezas em Medicamentos Usando Fluorescência de Raios-X
A fluorescência de raios-X permite análises não destrutivas e sem preparação para detectar catalisadores metálicos residuais, impurezas e metais prejudiciais em ingredientes farmacêuticos ativos (APIs). Essa técnica pode ser facilmente incorporada em qualquer processo de produção de medicamentos, com custos mais baixos em comparação com métodos de análise química que exigem técnicas de preparação demoradas e trabalhosas, gases e ventilação.
EDX-8100 - Análise mais fácil de metais em medicamentos
Foi criada uma curva de calibração de seis pontos adicionando padrão de platina (Pt) ao pó de celulose na faixa de 0 a 20 ppm. Os resultados na tabela abaixo mostram que uma boa desvio padrão (RMS) e coeficiente de linearidade foram alcançados usando apenas 100 mg de amostra e um tempo de análise de 20 minutos. Os resultados indicam que o sistema pode realizar análises com alta precisão mesmo com uma amostra limitada.
| Elemento | Faixa de concentração (ppm) | RMS(ppm) | Coeficiente de correlação |
|---|---|---|---|
| Pt | 0-20 | 0,25 | 0,9993 |
Espectro de EDX de uma amostra com Pt e As misturados em pó de celulose
Espectro EDX da amostra com Pt e As misturados em pó de celulose
O pico de platina (Pt) a 30 ppm é claramente detectado, assim como o pico de arsênio (As) a 5 ppm