Análise de Superfície
Análise de Superfície
Surface analysis is a technique used to analyze only the thin surface layer of a solid.
As a leading manufacturer of surface analysis instruments, we confidently provide innovative instruments and solutions to meet your surface measurement and analysis needs.
The Shimadzu surface analysis instrument portfolio includes high-resolution scanning probe microscopes (SPM)/atomic force microscopes (AFM), electron probe micro-analyzers (EPMA), and X-ray photoelectron spectrometers (XPS)/electron spectroscopy for chemical analysis (ESCA). These instruments are utilized in a wide range of applications such as steel, non-ferrous metals, environmental, food, chemicals, pharmaceuticals, semiconductors, ceramics, and polymers. Among this portfolio, we provide the SPM-Nanoa microscope, featuring powerful tools for observing the shape of micro areas and measuring their physical properties; the EPMA-8050G, which boasts unprecedented spatial resolution under all beam current conditions from SEM observation conditions to 1 μA order; and the AXIS Supra+ X-ray photoelectron spectrometer, which combines state-of-the-art spectroscopic and imaging capabilities with the highest level of automation currently available.
Learn more about our full lineup below.
A análise de superfície é uma técnica usada para analisar apenas a camada superficial fina de um sólido.
Como fabricante líder de instrumentos de análise de superfície, fornecemos com confiança instrumentos e soluções inovadoras para atender às suas necessidades de medição.
O portfólio de instrumentos de análise de superfície Shimadzu inclui microscópios de sonda de varredura de alta resolução (SPM)/microscópios de força atômica (AFM), microanalisadores de sonda eletrônica (EPMA) e espectrômetros de fotoelétrons de raios X (XPS)/espectroscopia eletrônica para análise química (ESCA ). Esses instrumentos são utilizados em uma ampla gama de aplicações, como aço, metais não ferrosos, meio ambiente, alimentos, produtos químicos, produtos farmacêuticos, semicondutores, cerâmica e polímeros. Dentro desse portfólio, oferecemos o microscópio SPM-Nanoa, com ferramentas poderosas para observar a forma de microáreas e medir suas propriedades físicas; o EPMA-8050G, que possui resolução espacial sem precedentes sob todas as condições de corrente de feixe, desde condições de observação SEM até ordem de 1 μA; e o espectrômetro de fotoelétrons de raios X AXIS Supra+, que combina recursos espectroscópicos e de imagem de última geração com o mais alto nível de automação atualmente disponível.
