EPMA-1720/1720H
Microssonda Eletrônica

EPMA-1720/1720H

Microanalisadores de sonda eletrônica (EPMA - Electron Probe Microanalyzers) são capazes de determinar a composição elementar de micro-áreas além da distribuição das concentrações elementares em superfícies de amostras por irradiação com um feixe de elétrons altamente concentrado e em seguida, medir a intensidade do espectro de raios-X que é gerado.

Uma característica dos sistemas EPMA é que o comprimento de onda X (WDS) é o utilizado pelos sistemas de EPMA oferecendo maior resolução do que os espectrômetros de energia dispersiva (EDS).

Portanto, em comparação com microscópios eletrônicos de varredura (MEV) equipados com detectores de EDS, o sistema EPMA permite uma análise com maior precisão e maior sensibilidade. Os modelos EPMA-1720/1720H, oferecendo os seguintes recursos.

 

  • O cátodo CeB6 pode ser anexado como fonte de elétrons, que fornece um feixe estreito e permite obter uma imagem da distribuição elementar com maior resolução espacial do que usar um filamento de tungstênio (apenas para o EPMA-1720H);

 

  • Ângulo de Take-off de 52,5° para análises em raios X, aumentando dessa forma a sensibilidade das análises;

 

  • Movimentos rápidos e estáveis permitem precisamente especificando pontos ou regiões para análise;

 

  • Várias funções automáticas e funções de bloqueio permitem fácil ajuste do feixe de elétrons;

 

  • Controle e software de análise utiliza uma vasta experiência analítica Shimadzu oferecendo um ambiente operacional, com excelente visibilidade para todas as operações de aquisição de dados para análise de dados e geração de relatórios;

 

  • Modo simplificado permite que mesmo usuários de primeira hora de executar uma ampla gama de operações, a partir da observação SEM para análise qualitativa e análise de mapeamento;

 

  • Programa de gerenciamento de dados que permite facilmente a manipulação dos dados em bloco.

Características Técnicas

Especificações Técnicas

Informações Geradas