SPM-8000FM
Microscópio de força atômica de alta resolução


Veja o mundo nano ganhar vida

O novo microscópio de força atômica HR-SPM usa detecção por frequência.
Este instrumento não é apenas capaz de observações em resolução ultra alta ao ar ou em líquidos, mas também pela primeira vez possibilita a observação da hidratação/solvatação de camadas na interface sólido líquido.

HR-SPM: Microscópio de força atômica de alta resolução

Recursos do HR-SPM

  • Usa o método FM-AFM
  • Ruído na medição ao ar e em líquidos é reduzido a 1/20 em relação aos métodos existentes.
  • Atinge o nível de performance de um SPM a vácuo, até mesmo para as medidas ao ar e líquidos!


Os AFMs (microscópios de força atômica) geralmente usam AM (modulação na amplitude). Contudo em princípio, o método de medição FM (modulação em frequência) habilita uma varredura com maior resolução.

AFM  Microscópios de força atômica
AM  Modulação na amplitude
FM  Modulação em frequência

Diferenças dos SPM/AFM existentes

Observações em solução com resolução atômica

Observações foram feitas do arranjo dos átomos na superfície do NaCl numa solução aquosa saturada. Átomos escondidos pelo ruído nas observações pelos AFM existentes (método AM, esquerda) estão claramente visíveis quando o método FM (direita) é usado. O método FM provê uma real resolução atômica.

Observação de partículas catalisadoras de Pt ao ar 1)

KPFM: Microscópio com sonda por Força de Keivin

Partículas catalisadoras de Pt num substrato de TiO2 foram identificadas, e o potencial de superfície foi medido usando o KPFM. Partículas de Pt no tamanho de alguns nm foram observadas na troca de cargas com o substrato. Na figura da direita, os círculos vermelhos indicam o potencial positivo, e os círculos azuis indicam o potencial negativo. Isto torna evidente que a resolução foi dramaticamente melhorada, até mesmo para a KPFM.

Nota: A funcionalidade KPFM é disponível em base de uma ordem especial.


Referências Citadas

1) Ryohei Kokawa, Masahiro Ohta, Akira Sasahara, Hiroshi Onishi, Kelvin Probe Force Microscopy Study of a Pt/TiO2 Catalyst Model Placed in an Atmospheric Pressure of N2 Environment, Chemistry – An Asian Journal, 7, 1251-1255 (2012).

*Aparência e especificaçãoes estão sujeitas a alterações sem prévio aviso.